集成電路(IC)的電磁兼容性,是衡量IC器件在預定電磁環(huán)境下工作時(shí)是否會(huì )對其他器件的工作產(chǎn)生騷擾,同時(shí)自身性能是否會(huì )受到其他器件所騷擾的一個(gè)重要指標。
對于集成電路來(lái)說(shuō),這個(gè)指標的提出是電子產(chǎn)品電磁環(huán)境高可靠設計的需求,同時(shí)也是芯片集成度日益增高時(shí)電磁環(huán)境可靠性問(wèn)題越來(lái)越突出以致直接關(guān)系到芯片性能的結果。TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試
集成電路的電磁兼容性測試在國內屬于一個(gè)相對較新的領(lǐng)域,在IEC61967提到了TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試,用TEM小室法對集成電路的電磁發(fā)射情況進(jìn)行測試。
在IEC62132則提到了TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試,用TEM小室法用于測量電磁輻射抗擾度的測試。
TEM小室法是非常適用于集成電路制造商評估芯片管芯的設計以及封裝對電磁輻射發(fā)射的影響。
HTM-80HA將工作頻率范圍允許對集成電路進(jìn)行8GHz的發(fā)射和抗擾度測試。TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試中,IC安裝在一個(gè)測試夾具上,該夾具用螺栓固定到位。
TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試中用戶(hù)只要制作好專(zhuān)門(mén)的測試板,一旦安裝,可根據IEC 61967-2和-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8在8GHz下進(jìn)行測量,并且實(shí)現可重復性的測試,極大的節省了測試成本。
我司*新推出的TEM小室可以用來(lái)測量來(lái)自被測件EUT或集成電路PCB的輻射敏感度和傳導抗擾度的試驗,其頻率可以達到8GHz。其駐波比可以到達1.25,傳輸衰減比小于0.3dB。
深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司,是一家專(zhuān)業(yè)致力于為客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)且性價(jià)比高的電磁兼容抗擾度校準裝置,屏蔽效能測試系統和電磁兼容測試的研發(fā)生產(chǎn)性企業(yè)。